講解數(shù)字式四探針測試計的原理

 SX1934D型二合一數(shù)字式四探針測試計 
 產(chǎn)品說明 
SX1934D型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業(yè)的篩選。 
產(chǎn)品特點 
 　　儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(自動調(diào)零)?？设b別半導體PN類別。

詳細參數(shù)